當前位置:首頁 > 產品中心 > 晶圓缺陷檢測 > 雙2D AOI系統(tǒng)
產品分類
晶圓缺陷檢測
查看全部產品
相關文章
iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設備,利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng),采用雙2D Camera同時采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷;True 3D技術,可以精確量測Bumping高度,Bumping共面性等特征??蛇m用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產品外觀檢測。
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部